Контроль близко расположенных объектов

Подпись: Рис. 2.2. Оптическая схема монокулярного микроскопа: 1 — окуляр; 2 — обратное изображение объекта; 3 — объектив: 4 — объект контроля: 5 — мнимое увеличенное изображе-ние объекта: С — рабо чее расстояние; О — расстояние наилучшего зрения При ОВ контроле близко расположенных объектов применяют лупы и микроскопы. Для получения увеличенного изо­бражения лупу помещают у поверхности детали / (рис. 2.1) так, чтобы расстояние между ними было немного меньше фокусного расстояния лупы. Наблюдатель при этом видит уве­личенное прямое мнимое изображение 2 детали, которое получается на рас­стоянии наилучшего зрения (D=>250 мм), т. е. на наименьшем расстоянии, на ко­тором нормальный глаз без напряже-

2

Контроль близко расположенных объектов

Рис. 2.1. Схема осмотра с применением лупы:

/ — объект контроля; 2 — мнимое изображение объекта: г —фокус лупы; /—фокусное рас­

стояние лупы

ния отчетливо видит предмет. Увеличение лупы приближенно равно: Гл=О// = 250//.

С ростом увеличения лупы улучшается разрешающая способность зрения, под которой понимают способность глаза различать раздельно близко расположенные точки, линии или другие фигуры. Однако из-за существенного сокращения поля зрения при больших увеличениях, уменьшения глубины резкости и других факторов контроль деталей в основном проводят с ПО­МОЩЬЮ луп увеличением от 2 до І О,

Подпись: Рис. 2.3. Бинокулярная налобная лупа БЛ-2

*■ Оптическая система микроскопа состоит из объектива 3 (рис. 2.2) и окуляра 1, оптические оси которых совпадают.’Пол­ное увеличение микроскопа Гм определяется как произведение

увеличения объектива Г0б и увеличения окуляра Гок как простой лупы:

Контроль близко расположенных объектов

Подпись: где Г0б=д//0б; Лж = DIU;

Д—расстояние от заднего фокуса объектива до переднего фокуса окуляра, мм.

Для контроля деталей применяют микроскопы с увеличением в пределах от 8 до 40—50.‘Несмотря на незначительное различие увеличения микроскопов и луп качество изображения, образуемого оптической системой микроскопов, выше.* Поэтому О В контроль деталей с применением микроскопов при прочих равных условиях более эффективен.

Для общего осмотра и поиска крупных дефектов (поверхност­ных коррозионных и эрозионных повреждений, забоин, пор и т. д.) на демонтированных деталях и в конструкции ЛА применяют обзорные лупы. Они имеют малое увеличение и большое поле ерения.

Обзорная складная лупа ЛПК-471 состоит из линзы с увеличе­нием 1,25—2, заключенной в оправу с ручкой. Световой — диаметр лупы 78 мм, фокусное расстояние 200 мм. Работа с ней не утом­ляет глаз. Осмотр можно проводить двумя глазами при расстоя­нии между ними и лупой до 500—600 мм и между лупой и деталью до 140—150 мм.

Бинокулярные налобные лупы БЛ-1 и БЛ-2 (рис. 2.3) имеют увеличение 1,25—2 и образуют стереоскопическое изображение рассматриваемого объекта. С цомрщьнз обода лупы могут кре-

питься на голове. На лупе БЛ-2 установлен осветитель. Эта лупа позволяет осматривать детали в условиях плохой освещенности.

‘ Для осмотра резьбы, для поиска трещин в обшивке вокруг заклепок, забоин на лопатках I ступени ротора компрессора и других дефектов на малых участках поверхности применяют про-

Контроль близко расположенных объектов

Рис. 2.4. Бинокулярный микроскоп МБС-2

стые однолинзовые складные карманные лупы ЛПГс увеличением 2,5; 4 и 7. Для поиска таких же повреждений, а также для опре­деления вида и анализа характера дефектов, обнаруженных цвет­ным, магнитопорошковым, ультразвуковым или токовихревым методами, используют складные карманные лупы, склеенные из трех линз, —ЛАЗ с увеличением 6 и 10. Эти лупы по сравнению с простыми дают изображение более высокого качества.

‘Микроскопы в основном используют в стационарных условиях для определения вида поверхностных дефектов, обнаруженных на демонтированных деталях каким-либо методом дефектоскопии. Однако в ряде случаев, когда, например, зона контроля очень мала, их применяют также для поиска дефектов. ‘

Бинокулярный микроскоп БМ-51-2 предназначен для ОВ конт­роля небольших деталей диаметром до 100 мм. Он имеет увели­чение 8,75, поле зрения 25 мм, рабочее расстояние С= 140 мм (т. е. расстояние от объектива микроскопа до объекта контроля, см. рис. 2.2). Оптическая система микроскопа дает возможность наблюдать прямое стереоскопическое изображение объекта. Прибор удобен при работе стоя.

Бинокулярный стереоскопический микроскоп МБС-2 {рис. 2.4) имеет диапазон увеличений от 3,5 до 88. Увеличение изменяется ступенчато. Оптическая система микроскопа позволяет получать прямое с высокой стереоскопичностью изображение контролируе­мого объекта. Поле зрения микроскопа изменяется от 2,6 до 42 мм в зависимости от увеличения. Рабочее расстояние при всех уве­личениях постоянное — 64 мм. Микроскоп имеет осветитель. Опти­ческая головка прибора установлена на универсальном штативе, который позволяет изменять направление осмотра и осматривать детали диаметром до 400 мм.

Бинокулярный стереоскопический микроскоп МБС-3 по конст­рукции аналогичен прибору МБС-2. Диапазон увеличений его по сравнению с последним расширен до 100. Рабочее расстояние микроокопа при всех увеличениях 109 мм, качество изображения улучшено.

При осмотре деталей могут быть использованы та<кже биноку­лярные стереоскопические микроскопы МБС-9, МБС-200 и др.

Лупы и микроскопы позволяют обнаруживать относительно крупные дефекты, имеющие достаточно высокий контраст на по­верхности детали, например раскрытые трещины различного про­исхождения, поверхностные коррозионные и эрозионные повреж­дения, забоины, открытые раковины, риски, надиры трущихся по­верхностей и другие дефекты материала деталей, лакокрасочных и гальванических покрытий. При анализе характера дефектов, об­наруженных цветным, магнитопорошковым и другими методами, эти приборы позволяют отличать трещины от рисок, заусенцев, зон наклепа, сколов окисной пленки, нитевидных загрязнений (смолистых отложений, волокон ветоши и т. д.).