Контроль близко расположенных объектов
При ОВ контроле близко расположенных объектов применяют лупы и микроскопы. Для получения увеличенного изображения лупу помещают у поверхности детали / (рис. 2.1) так, чтобы расстояние между ними было немного меньше фокусного расстояния лупы. Наблюдатель при этом видит увеличенное прямое мнимое изображение 2 детали, которое получается на расстоянии наилучшего зрения (D=>250 мм), т. е. на наименьшем расстоянии, на котором нормальный глаз без напряже-
2 Рис. 2.1. Схема осмотра с применением лупы: / — объект контроля; 2 — мнимое изображение объекта: г —фокус лупы; /—фокусное рас стояние лупы |
ния отчетливо видит предмет. Увеличение лупы приближенно равно: Гл=О// = 250//.
С ростом увеличения лупы улучшается разрешающая способность зрения, под которой понимают способность глаза различать раздельно близко расположенные точки, линии или другие фигуры. Однако из-за существенного сокращения поля зрения при больших увеличениях, уменьшения глубины резкости и других факторов контроль деталей в основном проводят с ПОМОЩЬЮ луп увеличением от 2 до І О,
*■ Оптическая система микроскопа состоит из объектива 3 (рис. 2.2) и окуляра 1, оптические оси которых совпадают.’Полное увеличение микроскопа Гм определяется как произведение
увеличения объектива Г0б и увеличения окуляра Гок как простой лупы:
Д—расстояние от заднего фокуса объектива до переднего фокуса окуляра, мм.
Для контроля деталей применяют микроскопы с увеличением в пределах от 8 до 40—50.‘Несмотря на незначительное различие увеличения микроскопов и луп качество изображения, образуемого оптической системой микроскопов, выше.* Поэтому О В контроль деталей с применением микроскопов при прочих равных условиях более эффективен.
Для общего осмотра и поиска крупных дефектов (поверхностных коррозионных и эрозионных повреждений, забоин, пор и т. д.) на демонтированных деталях и в конструкции ЛА применяют обзорные лупы. Они имеют малое увеличение и большое поле ерения.
Обзорная складная лупа ЛПК-471 состоит из линзы с увеличением 1,25—2, заключенной в оправу с ручкой. Световой — диаметр лупы 78 мм, фокусное расстояние 200 мм. Работа с ней не утомляет глаз. Осмотр можно проводить двумя глазами при расстоянии между ними и лупой до 500—600 мм и между лупой и деталью до 140—150 мм.
Бинокулярные налобные лупы БЛ-1 и БЛ-2 (рис. 2.3) имеют увеличение 1,25—2 и образуют стереоскопическое изображение рассматриваемого объекта. С цомрщьнз обода лупы могут кре-
питься на голове. На лупе БЛ-2 установлен осветитель. Эта лупа позволяет осматривать детали в условиях плохой освещенности.
‘ Для осмотра резьбы, для поиска трещин в обшивке вокруг заклепок, забоин на лопатках I ступени ротора компрессора и других дефектов на малых участках поверхности применяют про-
Рис. 2.4. Бинокулярный микроскоп МБС-2 |
стые однолинзовые складные карманные лупы ЛПГс увеличением 2,5; 4 и 7. Для поиска таких же повреждений, а также для определения вида и анализа характера дефектов, обнаруженных цветным, магнитопорошковым, ультразвуковым или токовихревым методами, используют складные карманные лупы, склеенные из трех линз, —ЛАЗ с увеличением 6 и 10. Эти лупы по сравнению с простыми дают изображение более высокого качества.
‘Микроскопы в основном используют в стационарных условиях для определения вида поверхностных дефектов, обнаруженных на демонтированных деталях каким-либо методом дефектоскопии. Однако в ряде случаев, когда, например, зона контроля очень мала, их применяют также для поиска дефектов. ‘
Бинокулярный микроскоп БМ-51-2 предназначен для ОВ контроля небольших деталей диаметром до 100 мм. Он имеет увеличение 8,75, поле зрения 25 мм, рабочее расстояние С= 140 мм (т. е. расстояние от объектива микроскопа до объекта контроля, см. рис. 2.2). Оптическая система микроскопа дает возможность наблюдать прямое стереоскопическое изображение объекта. Прибор удобен при работе стоя.
Бинокулярный стереоскопический микроскоп МБС-2 {рис. 2.4) имеет диапазон увеличений от 3,5 до 88. Увеличение изменяется ступенчато. Оптическая система микроскопа позволяет получать прямое с высокой стереоскопичностью изображение контролируемого объекта. Поле зрения микроскопа изменяется от 2,6 до 42 мм в зависимости от увеличения. Рабочее расстояние при всех увеличениях постоянное — 64 мм. Микроскоп имеет осветитель. Оптическая головка прибора установлена на универсальном штативе, который позволяет изменять направление осмотра и осматривать детали диаметром до 400 мм.
Бинокулярный стереоскопический микроскоп МБС-3 по конструкции аналогичен прибору МБС-2. Диапазон увеличений его по сравнению с последним расширен до 100. Рабочее расстояние микроокопа при всех увеличениях 109 мм, качество изображения улучшено.
При осмотре деталей могут быть использованы та<кже бинокулярные стереоскопические микроскопы МБС-9, МБС-200 и др.
Лупы и микроскопы позволяют обнаруживать относительно крупные дефекты, имеющие достаточно высокий контраст на поверхности детали, например раскрытые трещины различного происхождения, поверхностные коррозионные и эрозионные повреждения, забоины, открытые раковины, риски, надиры трущихся поверхностей и другие дефекты материала деталей, лакокрасочных и гальванических покрытий. При анализе характера дефектов, обнаруженных цветным, магнитопорошковым и другими методами, эти приборы позволяют отличать трещины от рисок, заусенцев, зон наклепа, сколов окисной пленки, нитевидных загрязнений (смолистых отложений, волокон ветоши и т. д.).